著录信息
- 专利名称：一种采用双波长结构光测量物体轮廓的方法
- 专利类型：发明
- 申请号：CN200510132886.6
- 公开(公告)号：CN1330928C
- 申请日：20051229
- 公开(公告)日：20070808
- 申请人：清华紫光股份有限公司
- 发明人：辛建波,高宏
- 申请人地址：100084北京市海淀区清华园清华大学紫光大楼
- 申请人区域代码：CN110108
- 专利权人：无
- 洛迦诺分类：无
- IPC：G01B11/24,G01B21/20
- 优先权：无
- 专利代理机构：北京清亦华知识产权代理事务所
- 代理人：罗文群
- 审查员：向莉
- 国际申请：无
- 国际公开(公告)：无
- 进入国家日期：无
- 分案申请：无
关键词
正弦调制,相位差,像素,投影仪,波长,白光,照相机,连续性约束条件,图像,测量表面形状,光学测量技术,算法稳定性,波长结构,测量精度,测量物体,三维形状,物体表面,组合波长,相关法,光场,解包,调制,照射,拍摄,计算机
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